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3-23
晶體(一般為單晶)中含有數量巨大、規(guī)則排列、方位相同的原子，X射線在晶體中的衍射實質上是晶體中各原子散射波之間的干涉結果。晶體衍射方向就是X射線射入周期性排列的晶體中的原子、分子，產生散射后次生X射線干涉、疊加相互加強的方向，用布拉格方程可以進行表述。XRD全稱X射線衍射,利用X射線在晶體中的衍射現(xiàn)象來獲得衍射后X射線信號特征，經過處理得到衍射圖譜。xrd衍射儀可以進行物相的定性和定量分析、晶格參數的精確測定、晶粒大小、微觀應力分析、單晶定向以及晶體缺陷等方面研究。每種礦物都...
3-3
合金含量分析儀都使用原電池作為主要元件，可以檢測多種氣體中從100%到0.1ppm的氧氣含量。儀表由微處理器控制，提供多樣功能。大的多位自動換檔LCD顯示濃度和用戶可以調節(jié)的參數。兩個報警通道，用戶可編程為high（高）、1ow（低）或off（關），每路報警都提供一套斷電轉換觸頭，可以被設定為儀表量程范圍內的任意濃度值。模擬輸出可以被設定到幾個量程中的任意一個。有兩種用戶可編程模擬輸出可供選擇：0~5V或4~20mA?？梢蕴峁追N不同類型的傳感器，從而使分析儀可以在多種不同的...
2-23
對于金屬制造行業(yè)來說，質量控制和質量保證非常重要。材料檢驗是確保金屬制品使用合格材質的關鍵。如果使用不合格的金屬合金，就會引起災難性事故，給企業(yè)帶來很大的經濟損失，破壞企業(yè)的聲譽，甚至導致人員傷亡。合金分析儀使用的是一種XRF光譜分析技術，可用于確認物質里的特定元素，同時將其量化。它可以根據X射線的發(fā)射波長(λ)及能量(E)確定具體元素，而通過測量相應射線的密度來確定此元素的量。如此一來，XRF度普術就能測定物質的元素構成。合金分析儀的優(yōu)勢如下：1、小巧便攜、操作快捷儀器體積...
2-22
手持金屬光譜分析儀是將光源輻射出的待測元素的特征光譜通過樣品的蒸汽中待測元素的基態(tài)原子所吸收，由發(fā)射光譜被減弱的程度，進而求得樣品中待測元素的含量。它符合郎珀-比爾定律A=-1gl/lo=-LgT=KCL式中l(wèi)為透射光強度，10為發(fā)射光強度，T為透射比，L為光通過原子化器光程由于L是不變值所以A=KC。物理原理任何元素的原子都是由原子核和繞核運動的電子組成的，原子核外電子按其能量的高低分層分布而形成不同的能級，因此，一個原子核可以具有多種能級狀態(tài)。能量低的能級狀態(tài)稱為基態(tài)能級...
2-14
手持合金成分分析儀是目前市場上提供體積小、分析速度快、功能多、精度高的對材料進行可靠性鑒別（PMI）和確認的便攜式多用途掌上型X射線熒光光譜分析儀，該分析儀可適用于任何場所，從而確保材料質量，確保材料無放射性，在對幾種常見的合金進行分析時，測試時間可持續(xù)20秒鐘?？焖俜治龀掷m(xù)測試間是2至3秒。該分析儀重量輕（1.6kg），操作簡單，一鍵式按鈕、長時間工作無疲勞感，可適用于-10°C至+50°C任何場所。該分析儀帶有握把和可以延伸的探頭，因此可以用來探測管道內部、焊縫、法蘭及其...
1-20
合金鋼分析儀（包括錫基軸承合金和鉛基軸承合金）是廣為人知的軸承材料，因其呈白色，又稱白合金，其應用可以追溯到工業(yè)革命時代。具有減摩特性的錫基巴氏合金和鉛基巴氏合金是適合相對于低硬度軸轉動的材料，與其它軸承材料相比，具有更好的適應性和壓入性，廣泛用于大型船用柴油機、渦輪機、交流發(fā)電機，以及其它礦山機械和大型旋轉機械等。主要成分是錫、鉛、錦、銅、其中梯和銅，用以提高合金強度和硬度。合金可簡單地分為三種：高錫合金、高鉛合金和中間合金（合金中錫和鉛均占有重要比例）。在所有這些合金系中...
1-14
鈦合金是以鈦為基礎加入其他元素組成的合金。鈦有兩種同質異晶體：882℃以下為密排六方結構α鈦，882℃以上為體心立方的β鈦。鈦合金中合金元素根據它們對相變溫度的影響可分為三類：①穩(wěn)定α相、提高相轉變溫度的元素為α穩(wěn)定元素,有鋁、碳、氧和氮等。其中鋁是鈦合金主要合金元素，它對提高合金的常溫和高溫強度、降低比重、增加彈性模量有明顯效果。②穩(wěn)定β相、降低相變溫度的元素為β穩(wěn)定元素，又可分同晶型和共析型二種。應用了鈦合金的產品，前者有鉬、鈮、釩等；后者有鉻、錳、銅、鐵、硅等。③對相變...
1-11
X射線是一種電磁輻射，其波長介于紫外線和Y射線之間。它的波長沒有一個嚴格的界限，一般來說是指波長為0.001-50nm的電磁輻射。對分析化學家來說，感興趣的波段是0.01-24nm，0.01nm左右是超鋪元素的K系譜線，24nm則是元素Li的K系譜線。1923年赫維西（Hevesy，G.Von）提出了應用X射線熒光光譜進行定量分析，但由于受到當時探測技術水平的限制，該法并未得到實際應用，直到20世紀40年代后期，隨著X射線管和分光技術的改進，X熒光分析才開始進入蓬勃發(fā)展的時期...
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